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    作者:世通檢測 來源:本站原創(chuàng) 流量:5148 發(fā)布時間:2014/12/22 17:25:12

     



    高溫試驗概念:

      此試驗中試件處于高溫空氣中,但不受到陽光直接照射。高溫試驗針對高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機(jī)等熱源處儲藏或使用產(chǎn)品的情形。僅當(dāng)太陽輻射試驗不能檢驗高溫效應(yīng)時才進(jìn)行這項試驗。高溫試驗的目的是檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能。高溫試驗的目的是確定軍民用設(shè)備在常溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性。

    高溫試驗參考標(biāo)準(zhǔn):
    GB/T 2423.2
    IEC 6
    0068-2-2,EIA-364-17


    低溫試驗概念:
      此試驗適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。低溫試驗的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和作戰(zhàn)。低溫試驗的目的是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性。

    低溫試驗參考標(biāo)準(zhǔn):
    GB/T 2423.1
    IEC 6
    0068-2-1EIA-364-59

     

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